5328 - 薄膜與材料分析技術專題(二) 英授 Taught in English
Special Topics on Thin Film and Materials Characterization
教育目標 Course Target
介紹固體材料物理性質分析之光譜技術及顯微術
Introduction to the physical properties analysis of solid materials and the microscopy
參考書目 Reference Books
1. Optical Diagnostics for Thin Film Processing, Irving P.Herman, 1996, Academic Press
2. 講義
3. Introduction to solid state physics 8 edition (Charles Kittle)
4. Thin Film Deposition
1. Optical Diagnostics for Thin Film Processing, Irving P.Herman, 1996, Academic Press
2. Lecture
3. Introduction to solid state physics 8 edition (Charles Kittle)
4. Thin Film Deposition
評分方式 Grading
評分項目 Grading Method |
配分比例 Percentage |
說明 Description |
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平常成績 Normal achievements |
40 | 包括出席, 作業,問答 |
報告 report |
40 | 專題書面及口頭報告 |
小考 Small exam |
20 | 隨堂小考 |
授課大綱 Course Plan
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課程資訊 Course Information
基本資料 Basic Information
- 課程代碼 Course Code: 5328
- 學分 Credit: 0-3
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上課時間 Course Time:Wednesday/12,Friday/10,11[BS508A]
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授課教師 Teacher:蕭錫鍊
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修課班級 Class:應物系3,4,碩博1,2
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選課備註 Memo:研究實驗室專題課,應物系3,4可選修,人工選課
交換生/外籍生選課登記
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