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應用物理學系
course information of 102 - 02 | 5328 (薄膜與材料分析技術專題(二))

Taught In English5328 - 薄膜與材料分析技術專題(二)


教育目標 Course Target

介紹固體材料物理性質分析之光譜技術及顯微術Introducing spectroscopic techniques and microscopy for analyzing the physical properties of solid materials


參考書目 Reference Books

1. Optical Diagnostics for Thin Film Processing, Irving P.Herman, 1996, Academic Press
2. 講義
3. Introduction to solid state physics 8 edition (Charles Kittle)
4. Thin Film Deposition
1. Optical Diagnostics for Thin Film Processing, Irving P.Herman, 1996, Academic Press
2. Handouts
3. Introduction to solid state physics 8 edition (Charles Kittle)
4. Thin Film Deposition


評分方式 Grading

評分項目 Grading Method 配分比例 Grading percentage 說明 Description
平常成績平常成績
normal grades
40 包括出席, 作業,問答
報告報告
report
40 專題書面及口頭報告
小考小考
Quiz
20 隨堂小考

授課大綱 Course Plan

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Course Information

Description

學分 Credit:0-3
上課時間 Course Time:Tuesday/9,Friday/9,10[BS511]
授課教師 Teacher:蕭錫鍊
修課班級 Class:應物碩博1,2,3,4
選課備註 Memo:0
This Course is taught In English 授課大綱 Course Plan: Open

選課狀態 Attendance

There're now 9 person in the class.
目前選課人數為 9 人。

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